Mikro- og nanostrukturerede overflader

Invitation til gå-hjem-møde

Hidtil har det været forbundet med store udfordringer at måle ruheder på nanoskala (Ra < 50 nm), karakterisere indersiden af en møtrik eller undersøge kvaliteten af svejsninger på svært tilgængelige områder. Med nye karakteriseringsmetoder er alt dette muligt og endda uden at det kræver store investeringer!

Læs mere her >